弊社製品Model2805Bは極めて高精度な寿命試験装置ですが、
その性能を十分に発揮するには電気測定に関する専門知識／経験が必要になります。
是非、以下のアプリケーションノートををお役立て下さい。
アプリケーションノートの入手はこちら。
１．
基本
本装置の特徴と基本確度仕様±0.04%の意味、環境条件。
全32個の電流源は、I-Vソース単体機に匹敵する精度を誇ります。
その為、外部I-Vソースは不要で、寿命試験中は常に精密電流駆動しています。
２．
四端子法接続の採用・その必要性、素子電圧を0.3mV単位で測る。
有機EL素子との間は四端子法（ケルビン接続法）を採用していますが、その必要性は？
接続ケーブルの直流抵抗が大きな誤差要因となる場合、補償回路が必須になります。
３．
寿命試験
駆動切り替えスキャナ無しで、電流は長期間安定、駆動は一瞬も途切れません。
試験中に駆動電流を再測定して補正する手法はお勧めできません。
４．
有機EL素子の温度特性、温度係数の測定と演算補正処理
室温下では温度監視・記録が欠かせず、外部温度計と連携すべきです。
本機は有機EL素子が1℃振れたときの素子電圧と発光強度の変化を
測定・評価できる精度と分解能を有しています。
その為、汎用エアコン下の試験データであっても、補正演算処理することで、
室温変動の影響を補償/圧縮できます。
照明用OLEDによる演算補正の実験報告書あります。
５．
バージン素子の初期変動、初期輝度上昇の評価
成膜時の異物混入とフリッカー状初期変動の関係、並びに素子構造と初期輝度上昇。
全32chの素子電圧・輝度を１秒ごとに高精度測定できることの重要性。
社内で評価・試験を実施しました。
６．
寿命試験中の不規則・突発変動を補足
寿命試験経過数百時間であっても、全CHで１秒毎の測定・監視を継続できます。
滑らかに推移する傾向からの逸脱・突発変動を補足・記録できます。
寿命末期の突然死（消光）が、直前に上記突発変動を伴うならば、
消光の直前に検知し、発光強度・素子電圧の変動を記録できます。
７．
LT10以降も試験可能
PD測光は近接6レンジも有り、試験開始時は分解能20,000以上を確保しています。
従って、LT10まで減光してもなお測光分解能は2000以上有り、自然消光までを正確に補足できます。
